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연구 개발 사업화
신기술 및 know-how를 바탕으로 국책 및 국내 유수 업체와 협약을 통한 연구 개발
| 개발 사업명 및 내용 | 사업기관 | 비고 |
|---|---|---|
| 디스플레이 드라이버 IC 테스트 핸들러 개발 | D사와 공동 진행 | 상품화 및 사업화 성공 |
| 고효율 전력절감형 Power Management IC 개발 | T사와 공동 진행 | |
| 가속센서 IC의 Wafer 및 Package Test 기술 개발 | 직접 개발 | |
| 전력용 트랜지스터의 효율적인 테스트를 위한 척 구조 개발 | 직접 개발 | |
| IR Blaster用 리모콘 제어 IC 개발 1,2차 진행 | A사와 공동 진행 | |
| CIS Package Test 개발 | 직접 개발 |
보유기술
Taiko Chuck
- 기존 Chuck
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- Taiko Chuck Type 1
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- Test House 최초 8inch용 Chuck 개발을 통한 Discrete 제품군 특정 항목 특성 Uniformity 확보
- 100 um 수준의 Thin Wafer Handling 및 Test 기술 보유
AVT (Auto Visual Test)
AVT 테스트는 CLCC / PLCC / CSP / BGA Type 등 CMOS Image Sensor 의 기존 육안검사를 Tester 장비를 이용 자동화 함으로 효율적이고 신뢰성 있는 Test service 가 가능하도록 고객의 Device 에 맞추어 다음과 같이 설계 공급 하고 있습니다.
- Load Board Hardware Design
- Test Program 개발
- Test Socket 설계 및 공급
- Handler Change Over-kit 설계 및 공급
